為一即時、非接觸式線上量測系統，提供厚度/重量/尺寸(直徑、真圓度)等製程變數的視覺化量測資料和分析，掃描平台可搭配各種最適合您應用的感測器(如X-Ray、β-ray、IR、Laser、Optical等)。
用於捲材製造過程的線上膜厚量測系統
獨特高效的掃描平台 MEK專用掃描平台設計之初即考量高效的設計，因此可提供完整的功能。採用獨特的「一體化」模組設計...
先進的光學和感測器組合 MEK的精密測量技術為線上膜厚量測於速度、精度和可靠度上樹立了新的標準，同時不受製程外部干...
直覺式操作介面，可支援多國語言，並可顯示統計品質管制圖(SQC)等測量結果，方便即時監控，確保最佳製程條件。
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